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アイテム
GaN(0001)表面における ポジトロニウム生成
https://repo.qst.go.jp/records/83076
https://repo.qst.go.jp/records/830761a76e142-4b42-481a-b6e5-771e68615942
Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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公開日 | 2021-07-02 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | GaN(0001)表面における ポジトロニウム生成 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
資源タイプ | conference object | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
著者 |
河裾, 厚男
× 河裾, 厚男× 河裾× 前川, 雅樹× 宮下, 敦巳× 和田, 健× 長嶋, 泰之× 石田, 明× Atsuo, Kawasuso× Masaki, Maekawa× Atsumi, Miyashita |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 固体表面からのポジトロニウム放出の研究では、主に金属や絶縁体が調べられて来たが、半導体に関する研究例は極めて少ない。半導体には、励起型(間接・直接励起)、バンドギャップ(100meV~10eV)、伝導型(n型、p型、半絶縁性)、そして、強いスピン軌道相互作用の有無によって様々な違いがある。半導体には、金属や絶縁体と同じように、負のポジトロニウム仕事関数を持つものが多くある。これらのことから、半導体からのポジトロニウム放出過程を調べることは、意味のあることと言える。そこで、我々は、2017年頃から、半導体からのポジトロニウム放出過程の研究を開始した。これまで、間接半導体であるシリコン(Si)と炭化ケイ素(SiC)からのポジトロニウム放出についての研究結果を報告してきた。今回は、直接励起型でワイドギャップを持つ窒化ガリウム(GaN)について得られた結果を報告する。 | |||||
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 第58回アイソトープ・放射線研究発表会 | |||||
発表年月日 | ||||||
日付 | 2021-07-09 | |||||
日付タイプ | Issued |