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  1. その他誌上発表

X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法 2. 放射光を用いたラインプロファイル解析

https://repo.qst.go.jp/records/82588
https://repo.qst.go.jp/records/82588
95c40f3a-ae22-4db5-a586-e862e8145f6b
Item type 一般雑誌記事 / Article(1)
公開日 2021-04-01
タイトル
タイトル X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法 2. 放射光を用いたラインプロファイル解析
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ article
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
著者 菖蒲, 敬久

× 菖蒲, 敬久

WEKO 943455

菖蒲, 敬久

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城, 鮎美

× 城, 鮎美

WEKO 943456

城, 鮎美

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吉田, 裕

× 吉田, 裕

WEKO 943457

吉田, 裕

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Ayumi, Shiro

× Ayumi, Shiro

WEKO 943458

en Ayumi, Shiro

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 回折法を利用し、回折ピークのシフト量よりひずみや応力を算出してきたが、回折プロファイルの幅には、結晶子サイズや転位密度に関する情報が含まれている。この点に着目し、実験室系X線を利用したラインプロファイル解析(LPA)により、鉄鋼材料を中心とした転位密度評価が行われている。本講座では、実験室系X線よりも高強度、高指向性であることから、局所領域からのデータ取得が秒オーダー、またはそれ以下で可能となる、高エネルギー放射光X線を利用したLPAについて紹介する。
書誌情報 材料

巻 69, 号 4, p. 343-347, 発行日 2020-04
出版者
出版者 公益社団法人日本材料学会
関連サイト
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.2472/jsms.69.343
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Ver.1 2023-05-15 17:41:32.970169
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