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X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法 2. 放射光を用いたラインプロファイル解析
https://repo.qst.go.jp/records/82588
https://repo.qst.go.jp/records/8258895c40f3a-ae22-4db5-a586-e862e8145f6b
Item type | 一般雑誌記事 / Article(1) | |||||
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公開日 | 2021-04-01 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法 2. 放射光を用いたラインプロファイル解析 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | article | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
著者 |
菖蒲, 敬久
× 菖蒲, 敬久× 城, 鮎美× 吉田, 裕× Ayumi, Shiro |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 回折法を利用し、回折ピークのシフト量よりひずみや応力を算出してきたが、回折プロファイルの幅には、結晶子サイズや転位密度に関する情報が含まれている。この点に着目し、実験室系X線を利用したラインプロファイル解析(LPA)により、鉄鋼材料を中心とした転位密度評価が行われている。本講座では、実験室系X線よりも高強度、高指向性であることから、局所領域からのデータ取得が秒オーダー、またはそれ以下で可能となる、高エネルギー放射光X線を利用したLPAについて紹介する。 | |||||
書誌情報 |
材料 巻 69, 号 4, p. 343-347, 発行日 2020-04 |
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出版者 | ||||||
出版者 | 公益社団法人日本材料学会 | |||||
関連サイト | ||||||
識別子タイプ | DOI | |||||
関連識別子 | https://doi.org/10.2472/jsms.69.343 |