{"created":"2023-05-15T15:00:53.008822+00:00","id":82588,"links":{},"metadata":{"_buckets":{"deposit":"150981e7-cc1d-4dd6-b6a3-3d309ca3eeed"},"_deposit":{"created_by":1,"id":"82588","owners":[1],"pid":{"revision_id":0,"type":"depid","value":"82588"},"status":"published"},"_oai":{"id":"oai:repo.qst.go.jp:00082588","sets":["11"]},"author_link":["943457","943455","943456","943458"],"item_10004_biblio_info_7":{"attribute_name":"書誌情報","attribute_value_mlt":[{"bibliographicIssueDates":{"bibliographicIssueDate":"2020-04","bibliographicIssueDateType":"Issued"},"bibliographicIssueNumber":"4","bibliographicPageEnd":"347","bibliographicPageStart":"343","bibliographicVolumeNumber":"69","bibliographic_titles":[{"bibliographic_title":"材料"}]}]},"item_10004_description_5":{"attribute_name":"抄録","attribute_value_mlt":[{"subitem_description":"回折法を利用し、回折ピークのシフト量よりひずみや応力を算出してきたが、回折プロファイルの幅には、結晶子サイズや転位密度に関する情報が含まれている。この点に着目し、実験室系X線を利用したラインプロファイル解析（LPA）により、鉄鋼材料を中心とした転位密度評価が行われている。本講座では、実験室系X線よりも高強度、高指向性であることから、局所領域からのデータ取得が秒オーダー、またはそれ以下で可能となる、高エネルギー放射光X線を利用したLPAについて紹介する。","subitem_description_type":"Abstract"}]},"item_10004_publisher_8":{"attribute_name":"出版者","attribute_value_mlt":[{"subitem_publisher":"公益社団法人日本材料学会"}]},"item_10004_relation_17":{"attribute_name":"関連サイト","attribute_value_mlt":[{"subitem_relation_type_id":{"subitem_relation_type_id_text":"https://doi.org/10.2472/jsms.69.343","subitem_relation_type_select":"DOI"}}]},"item_access_right":{"attribute_name":"アクセス権","attribute_value_mlt":[{"subitem_access_right":"metadata only access","subitem_access_right_uri":"http://purl.org/coar/access_right/c_14cb"}]},"item_creator":{"attribute_name":"著者","attribute_type":"creator","attribute_value_mlt":[{"creatorNames":[{"creatorName":"菖蒲, 敬久"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"943455","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"城, 鮎美"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"943456","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"吉田, 裕"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"943457","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"Ayumi, Shiro","creatorNameLang":"en"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"943458","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]}]},"item_language":{"attribute_name":"言語","attribute_value_mlt":[{"subitem_language":"jpn"}]},"item_resource_type":{"attribute_name":"資源タイプ","attribute_value_mlt":[{"resourcetype":"article","resourceuri":"http://purl.org/coar/resource_type/c_6501"}]},"item_title":"X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法　2. 放射光を用いたラインプロファイル解析","item_titles":{"attribute_name":"タイトル","attribute_value_mlt":[{"subitem_title":"X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法　2. 放射光を用いたラインプロファイル解析"}]},"item_type_id":"10004","owner":"1","path":["11"],"pubdate":{"attribute_name":"公開日","attribute_value":"2021-04-01"},"publish_date":"2021-04-01","publish_status":"0","recid":"82588","relation_version_is_last":true,"title":["X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法　2. 放射光を用いたラインプロファイル解析"],"weko_creator_id":"1","weko_shared_id":-1},"updated":"2023-05-15T20:18:05.915833+00:00"}