@article{oai:repo.qst.go.jp:00082588,
 author = {菖蒲, 敬久 and 城, 鮎美 and 吉田, 裕 and Ayumi, Shiro},
 issue = {4},
 journal = {材料},
 month = {Apr},
 note = {回折法を利用し、回折ピークのシフト量よりひずみや応力を算出してきたが、回折プロファイルの幅には、結晶子サイズや転位密度に関する情報が含まれている。この点に着目し、実験室系X線を利用したラインプロファイル解析（LPA）により、鉄鋼材料を中心とした転位密度評価が行われている。本講座では、実験室系X線よりも高強度、高指向性であることから、局所領域からのデータ取得が秒オーダー、またはそれ以下で可能となる、高エネルギー放射光X線を利用したLPAについて紹介する。},
 pages = {343--347},
 title = {X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法　2. 放射光を用いたラインプロファイル解析},
 volume = {69},
 year = {2020}
}