WEKO3
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{"_buckets": {"deposit": "c472dd88-4db8-47c6-9480-675223c1fb69"}, "_deposit": {"created_by": 1, "id": "76974", "owners": [1], "pid": {"revision_id": 0, "type": "depid", "value": "76974"}, "status": "published"}, "_oai": {"id": "oai:repo.qst.go.jp:00076974", "sets": ["28"]}, "author_link": ["788554", "788548", "788555", "788551", "788549", "788550", "788552", "788547", "788546", "788553"], "item_10005_date_7": {"attribute_name": "発表年月日", "attribute_value_mlt": [{"subitem_date_issued_datetime": "2019-11-08", "subitem_date_issued_type": "Issued"}]}, "item_10005_description_5": {"attribute_name": "抄録", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "ボロン(B、ホウ素)の軟X線発光を用いた状態分析は、自動車用高機能鋼材及びBWR・PWR原子炉材分析、農産物と土壌の分析、さらに半導体のドーパント分析、スピントロニクス・超電導材料開発などの分野で最近富に利用が拡大しているが、微量分析の目的には更なる分析強度の向上が望まれている。このため、表面物質がNiである軟X線回折格子表面上にランタン(La)系膜を堆積しB-K発光(6.76nm) において、受光量を増すため、従前より小さい入射角で回折効率を増大させる条件を探索した。試作した回折格子を放射光施設で測定した結果、LaF3およびLa / C膜を数十nm厚で堆積した回折格子を入射角が従前より約3°小さい84.20°で使用したとき、それぞれ27.8%および29.8%の回折効率を得た。電子顕微鏡に搭載の軟X線分光器による実機測定でも従来比で3倍以上の分析強度の向上を達成した。", "subitem_description_type": "Abstract"}]}, "item_10005_description_6": {"attribute_name": "会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等)", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "応用物理学会関西支部2019年度第2回講演会", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_access_right": {"attribute_name": "アクセス権", "attribute_value_mlt": [{"subitem_access_right": "metadata only access", "subitem_access_right_uri": "http://purl.org/coar/access_right/c_14cb"}]}, "item_creator": {"attribute_name": "著者", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "小池, 雅人"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788546", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "羽多野, 忠"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788547", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "寺内, 正己"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788548", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "高橋, 秀之"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788549", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "村野, 孝訓"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788550", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "高倉, 優"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788551", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "長野, 哲也"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788552", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "笹井, 浩行"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788553", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "西原, 弘晃"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788554", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}, {"creatorNames": [{"creatorName": "Koike, Masato", "creatorNameLang": "en"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "788555", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}]}, "item_language": {"attribute_name": "言語", "attribute_value_mlt": [{"subitem_language": "jpn"}]}, "item_resource_type": {"attribute_name": "資源タイプ", "attribute_value_mlt": [{"resourcetype": "conference object", "resourceuri": "http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f"}]}, "item_title": "ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発", "item_titles": {"attribute_name": "タイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_title": "ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発"}]}, "item_type_id": "10005", "owner": "1", "path": ["28"], "permalink_uri": "https://repo.qst.go.jp/records/76974", "pubdate": {"attribute_name": "公開日", "attribute_value": "2019-09-30"}, "publish_date": "2019-09-30", "publish_status": "0", "recid": "76974", "relation": {}, "relation_version_is_last": true, "title": ["ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発"], "weko_shared_id": -1}
ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発
https://repo.qst.go.jp/records/76974
https://repo.qst.go.jp/records/7697460ec5922-b437-4b80-983e-d252067ede23
Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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公開日 | 2019-09-30 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | ボロンK発光(183eV)分光計測のためのランタン系膜付加による 高回折効率・広受光角軟X線ラミナー型回折格子の開発 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
資源タイプ | conference object | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
著者 |
小池, 雅人
× 小池, 雅人× 羽多野, 忠× 寺内, 正己× 高橋, 秀之× 村野, 孝訓× 高倉, 優× 長野, 哲也× 笹井, 浩行× 西原, 弘晃× Koike, Masato |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | ボロン(B、ホウ素)の軟X線発光を用いた状態分析は、自動車用高機能鋼材及びBWR・PWR原子炉材分析、農産物と土壌の分析、さらに半導体のドーパント分析、スピントロニクス・超電導材料開発などの分野で最近富に利用が拡大しているが、微量分析の目的には更なる分析強度の向上が望まれている。このため、表面物質がNiである軟X線回折格子表面上にランタン(La)系膜を堆積しB-K発光(6.76nm) において、受光量を増すため、従前より小さい入射角で回折効率を増大させる条件を探索した。試作した回折格子を放射光施設で測定した結果、LaF3およびLa / C膜を数十nm厚で堆積した回折格子を入射角が従前より約3°小さい84.20°で使用したとき、それぞれ27.8%および29.8%の回折効率を得た。電子顕微鏡に搭載の軟X線分光器による実機測定でも従来比で3倍以上の分析強度の向上を達成した。 | |||||
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 応用物理学会関西支部2019年度第2回講演会 | |||||
発表年月日 | ||||||
日付 | 2019-11-08 | |||||
日付タイプ | Issued |