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アイテム
Field emission studies in vertical test and during cryomodule operation using precise x-ray mapping system
https://repo.qst.go.jp/records/74630
https://repo.qst.go.jp/records/74630b3c00b64-c9c7-403d-ae8b-993cc4b54214
| Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2019-02-05 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Field emission studies in vertical test and during cryomodule operation using precise x-ray mapping system | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | journal article | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
阪井寛志
× 阪井寛志× Cenni , Enrico× 江並和宏× 古屋貴章× 沢村, 勝× 篠江憲治× 梅森健成× Sawamura, Masaru |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 電界放出は、超伝導空洞の性能悪化で最も深刻な問題の1つである。しかし、空洞性能試験と低温モジュール運転では、電界放出源を特定することは困難である。そこで電界放出源から電子放出を正確に調べるための診断システムを開発した。開発されたシステムは、カーボン・センサーとSiピン（PIN）ダイオードの2種類のセンサーで構成され、電子放出によってもたらされる温度上昇と放射線を測定する。空洞軸のまわりでセンサー配列を回転させることにより空洞面に関する詳細な情報を得ることができ、発生源の識別が可能になった。またシミュレーションから電界放出源がどのように確認されるかについても述べる。 | |||||
| 書誌情報 |
Physical Review Accelerators and Beams 巻 22, 号 022002, p. 1-22, 発行日 2019-02 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | American Physics Society | |||||
| DOI | ||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | 10.1103/PhysRevAccelBeams.22.022002 | |||||
| 関連サイト | ||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||
| 関連識別子 | https://journals.aps.org/prab/abstract/10.1103/PhysRevAccelBeams.22.022002 | |||||
