@article{oai:repo.qst.go.jp:00074630,
 author = {阪井寛志 and Cenni , Enrico and 江並和宏 and 古屋貴章 and 沢村, 勝 and 篠江憲治 and 梅森健成 and Sawamura, Masaru},
 issue = {022002},
 journal = {Physical Review Accelerators and Beams},
 month = {Feb},
 note = {電界放出は、超伝導空洞の性能悪化で最も深刻な問題の1つである。しかし、空洞性能試験と低温モジュール運転では、電界放出源を特定することは困難である。そこで電界放出源から電子放出を正確に調べるための診断システムを開発した。開発されたシステムは、カーボン・センサーとSiピン（PIN）ダイオードの2種類のセンサーで構成され、電子放出によってもたらされる温度上昇と放射線を測定する。空洞軸のまわりでセンサー配列を回転させることにより空洞面に関する詳細な情報を得ることができ、発生源の識別が可能になった。またシミュレーションから電界放出源がどのように確認されるかについても述べる。},
 pages = {1--22},
 title = {Field emission studies in vertical test and during cryomodule operation using precise x-ray mapping system},
 volume = {22},
 year = {2019}
}