WEKO3
アイテム
微粒子や鉱物微小領域評価のためのイオンマイクロビーム発光連続分析技術
https://repo.qst.go.jp/records/66035
https://repo.qst.go.jp/records/6603594e81d9d-55ce-400a-a402-7c082ad53a60
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2016-12-01 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 微粒子や鉱物微小領域評価のためのイオンマイクロビーム発光連続分析技術 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
加田, 渉
× 加田, 渉× 川端, 駿介× 佐藤, 隆博× 江夏, 昌志× 山田, 尚人× 三浦, 健太× 神谷, 富裕× 村尾, 智× 花泉, 修× 佐藤 隆博× 山田 尚人× 神谷 富裕 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | MeV級水素イオンマイクロビームによる荷電粒子誘起発光(IBIL)顕微分光分析の開発では、光学系の改良によるS/N比の改善と複数の波長スペクトルの同時測定により、様々な試料からのIBILスペクトルの高感度かつ短時間の計測が可能になった。そこで、実際に環境試料中に含まれる化合物の分析にこれを利用した。実験では標準試料（SiO2:Feを含む）と環境試料のIBILスペクトルをそれぞれ測定し、前者から得られたIBILスペクトルについて、基線減算処理、ピークフィッティングを行った後、後者のIBILスペクトルと比較した。この結果、環境試料中に含まれている複数の化合物の中の一つのSiO2:Feの識別に成功した。今後、様々な化合物を含む標準試料のIBILスペクトルデータベースの整備を進めることにより、MeV級水素イオンマイクロビームを用いた化合物のマッピングが実現可能であることが示された。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 第26回環境地質学シンンポジウム | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2016-11-25 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
