@misc{oai:repo.qst.go.jp:00066035,
 author = {加田, 渉 and 川端, 駿介 and 佐藤, 隆博 and 江夏, 昌志 and 山田, 尚人 and 三浦, 健太 and 神谷, 富裕 and 村尾, 智 and 花泉, 修 and 佐藤 隆博 and 山田 尚人 and 神谷 富裕},
 month = {Nov},
 note = {MeV級水素イオンマイクロビームによる荷電粒子誘起発光(IBIL)顕微分光分析の開発では、光学系の改良によるS/N比の改善と複数の波長スペクトルの同時測定により、様々な試料からのIBILスペクトルの高感度かつ短時間の計測が可能になった。そこで、実際に環境試料中に含まれる化合物の分析にこれを利用した。実験では標準試料（SiO2:Feを含む）と環境試料のIBILスペクトルをそれぞれ測定し、前者から得られたIBILスペクトルについて、基線減算処理、ピークフィッティングを行った後、後者のIBILスペクトルと比較した。この結果、環境試料中に含まれている複数の化合物の中の一つのSiO2:Feの識別に成功した。今後、様々な化合物を含む標準試料のIBILスペクトルデータベースの整備を進めることにより、MeV級水素イオンマイクロビームを用いた化合物のマッピングが実現可能であることが示された。, 第26回環境地質学シンンポジウム},
 title = {微粒子や鉱物微小領域評価のためのイオンマイクロビーム発光連続分析技術},
 year = {2016}
}