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アイテム
SEM-SXESによる微量ボロンの化学状態分析
https://repo.qst.go.jp/records/65931
https://repo.qst.go.jp/records/659312c79ec78-ed5e-4bd8-9277-5b5b4f883199
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2016-07-28 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | SEM-SXESによる微量ボロンの化学状態分析 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
寺内正己
× 寺内正己× 高橋秀之× 高倉, 優× 村野孝訓× 小池, 雅人× 今園, 孝志× 長野, 哲也× 笹井, 浩行× 小池 雅人× 今園 孝志 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 検出器として MCP+CMOSを搭載したSEM-SXES（軟X線発光分光）装置を用い微量ボロン（B）の検出実験を行った。試料はB,P,Cの平均組成が45、53、41 ppm(wt.%)の炭素鋼であり、5か所の様々な領域のスペクトルを観察した。測定条件は、加速電圧5kV、電流量170nA、積算時間5分であった。SEM観察からBの析出物を含むと判断された領域ではB-Kの信号が観測された。その反対に存在しないとされた領域では観察されなかった。また、析出物ごとにO-K（2次光）、C-K、N-K、B-K、S-Kの強度分布が異なることが分かった。強いB-Kピークと共にO-K、N-K強度が強く観測された領域ではB-N、B-Oの化合物の存在が示唆される。Ni表面に高密度のDLC(ダイヤモンドライクカーボン)薄膜を付加した新型高効率回折格子を用いてBの組成が10ppmの炭素鋼試料でのB検出に成功した。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 日本顕微鏡学会第72回学術講演会（JSM2016） | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2016-06-14 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
