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  1. 学会発表・講演等
  2. ポスター発表

スピン偏極陽電子消滅法による窒化ガリウムの空孔誘起電子スピンの光制御評価

https://repo.qst.go.jp/records/84094
https://repo.qst.go.jp/records/84094
93fc734b-f1c6-408b-97bb-f4ad4c9a5a1c
Item type 会議発表用資料 / Presentation(1)
公開日 2021-12-03
タイトル
タイトル スピン偏極陽電子消滅法による窒化ガリウムの空孔誘起電子スピンの光制御評価
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f
資源タイプ conference object
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
著者 前川, 雅樹

× 前川, 雅樹

WEKO 1016178

前川, 雅樹

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河裾, 厚男

× 河裾, 厚男

WEKO 1016179

河裾, 厚男

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宮下, 敦巳

× 宮下, 敦巳

WEKO 1016180

宮下, 敦巳

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Masaki, Maekawa

× Masaki, Maekawa

WEKO 1016181

en Masaki, Maekawa

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Atsuo, Kawasuso

× Atsuo, Kawasuso

WEKO 1016182

en Atsuo, Kawasuso

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Atsumi, Miyashita

× Atsumi, Miyashita

WEKO 1016183

en Atsumi, Miyashita

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 原子空孔の導入で磁性が発現する空孔誘起磁性は、不純物元素の添加なしに強磁性半導体を作製できる新しい方法として注目されている。窒化ガリウム(GaN)のような窒化物では、不対電子が最大3つ存在できることから強い磁化が予想される。しかし窒素照射GaNでは、陽電子消滅測定で明確なカチオン原子空孔(ガリウム空孔)の導入が確認されるものの、磁化がほとんど検出されない。これは本来空席となるべき欠陥準位を余計な電子が埋め、スピンを打ち消しているためではないかと考えた。そこで紫外光照射により欠陥に捉えられた電子を弾き飛ばして磁性が発現するかを調べた。
TIARAイオン注入装置で100keVの窒素イオン照射(1015cm-2)を行い、GaN膜中に格子欠陥を導入した。暗黒中(紫外線off)ではMDBスペクトルに明確な反応は見られない(ノイズレベル)。紫外光(360 nm LED照射)照射下にて同様の測定を行ったところ、MDB強度に増大は見られず、顕著な磁性増強を検出するには至らなかった。本実験からは、カチオン空孔が作る欠陥準位への電子補償により磁性が抑制されているのではないと推測される。窒化物半導体で空孔誘起磁性が出る場合は、カチオン原子空孔説で理論的に予測された単空孔ではなく、欠陥クラスターなどの別の欠陥構造が関与している可能性が考えられる。
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等)
内容記述タイプ Other
内容記述 QST 高崎サイエンスフェスタ 2021
発表年月日
日付 2021-12-08
日付タイプ Issued
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Ver.1 2023-05-15 17:15:19.453131
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