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アイテム
Bragg コヒーレントX線回折を用いたナノ結晶の外形、歪分布のイ メージング
https://repo.qst.go.jp/records/83430
https://repo.qst.go.jp/records/8343066603c3d-f1ac-4718-8110-d5eb45fc0b97
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2021-08-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Bragg コヒーレントX線回折を用いたナノ結晶の外形、歪分布のイ メージング | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
押目, 典宏
× 押目, 典宏× 大和田, 謙二× 菅原, 健人× 安部, 友啓× 山内, 礼士× 上野, 哲朗× 町田, 晃彦× 綿貫, 徹× 石井, 賢司× 上野, 慎太郎× 藤井, 一郎× 和田, 智志× 佐藤, 良太× 寺西, 利治× 山内, 美穂× 豊川, 秀訓× 黒岩, 芳弘× Norihiro, Oshime× Kenji, Ohwada× Kento, Sugawara× Tetsuro, Ueno× Akihiko, Machida× Tetsu, Watanuki× Kenji, Ishii× Hidenori, Toyokawa |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 十分なコヒーレンス長をもつX 線を結晶性粒子に照射すると、スペックルを付随したBragg回折図形が得られる。この回折図形が諸条件（コヒーレントX 線による粒子の完浴、オーバーサンプリング、far-field）を満たす場合、フーリエ反復アルゴリズムを適用することで粒子の形状、サイズ、内部歪の情報が得られる。この手法はBragg コヒーレントX 線回折イメージング（Bragg-CDI）と呼ばれており[1]、未だ開発途上の技術ではあるものの、水素吸蔵に伴う格子変形[2] やドメインによる歪[3] の観察手法として多くの注目されている。数μm オーダーの空間コヒーレンスが得られる第3 世代放射光施設で導入が進められているこのレンズレスイメージング技術は、日本国内では、発表者らがSPring-8 のBL22XU ビームラインにて技術開発を進めているところである[4]。今回、発表者らは試料環境と解析技術の両面から技術的改良を実施し、Bragg-CDI を適用できる粒子サイズ領域を100–300nm から40–500nm へと大幅に拡大させた[5]。本講演では、Bragg-CDI の適用により可視化された、粒子サイズ40nm 級のPd または200–500nm 級BaTiO3 微粒子の形状とサイズ、内部の歪み分布について報告する。 [1] I. Robinson and H. Ross, Nat. Mater. 8, 291 (2009). [2] A. Yau, R. Harder, M. Kanan, A. Ulvestad, ACS Nano 11, 10945 (2017). [3] J. Diao et al., Phys. Rev. Mater. 4, 106001 (2020). [4] K. Ohwada et al., Jpn. J. Appl. Phys. 58, SLLA05 (2019). [5] N. Oshime et al., Jpn. J. Apple. Phys. (in press). https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac148b |
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| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 日本物理学会2021年秋季大会 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2021-09-20 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
