@misc{oai:repo.qst.go.jp:00083430,
 author = {押目, 典宏 and 大和田, 謙二 and 菅原, 健人 and 安部, 友啓 and 山内, 礼士 and 上野, 哲朗 and 町田, 晃彦 and 綿貫, 徹 and 石井, 賢司 and 上野, 慎太郎 and 藤井, 一郎 and 和田, 智志 and 佐藤, 良太 and 寺西, 利治 and 山内, 美穂 and 豊川, 秀訓 and 黒岩, 芳弘 and Norihiro, Oshime and Kenji, Ohwada and Kento, Sugawara and Tetsuro, Ueno and Akihiko, Machida and Tetsu, Watanuki and Kenji, Ishii and Hidenori, Toyokawa},
 month = {Sep},
 note = {十分なコヒーレンス長をもつX 線を結晶性粒子に照射すると、スペックルを付随したBragg回折図形が得られる。この回折図形が諸条件（コヒーレントX 線による粒子の完浴、オーバーサンプリング、far-field）を満たす場合、フーリエ反復アルゴリズムを適用することで粒子の形状、サイズ、内部歪の情報が得られる。この手法はBragg コヒーレントX 線回折イメージング（Bragg-CDI）と呼ばれており[1]、未だ開発途上の技術ではあるものの、水素吸蔵に伴う格子変形[2] やドメインによる歪[3] の観察手法として多くの注目されている。数μm オーダーの空間コヒーレンスが得られる第3 世代放射光施設で導入が進められているこのレンズレスイメージング技術は、日本国内では、発表者らがSPring-8 のBL22XU ビームラインにて技術開発を進めているところである[4]。今回、発表者らは試料環境と解析技術の両面から技術的改良を実施し、Bragg-CDI を適用できる粒子サイズ領域を100–300nm から40–500nm へと大幅に拡大させた[5]。本講演では、Bragg-CDI の適用により可視化された、粒子サイズ40nm 級のPd または200–500nm 級BaTiO3 微粒子の形状とサイズ、内部の歪み分布について報告する。
[1] I. Robinson and H. Ross, Nat. Mater. 8, 291 (2009).
[2] A. Yau, R. Harder, M. Kanan, A. Ulvestad, ACS Nano 11, 10945 (2017).
[3] J. Diao et al., Phys. Rev. Mater. 4, 106001 (2020).
[4] K. Ohwada et al., Jpn. J. Appl. Phys. 58, SLLA05 (2019).
[5] N. Oshime et al., Jpn. J. Apple. Phys. (in press). https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac148b, 日本物理学会2021年秋季大会},
 title = {Bragg コヒーレントX線回折を用いたナノ結晶の外形、歪分布のイ メージング},
 year = {2021}
}