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  1. 原著論文

Charge-separated spectra of suprathermal highly charged bismuth ions in a dual laser-produced plasma soft x-ray source

https://repo.qst.go.jp/records/80318
https://repo.qst.go.jp/records/80318
93c69953-935d-4ce9-aa45-dda07fd20d82
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2020-05-01
タイトル
タイトル Charge-separated spectra of suprathermal highly charged bismuth ions in a dual laser-produced plasma soft x-ray source
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
著者 Kawasaki, Hiromu

× Kawasaki, Hiromu

WEKO 881444

Kawasaki, Hiromu

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Tamura, Toshiki

× Tamura, Toshiki

WEKO 881445

Tamura, Toshiki

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Sunahara, Atsushi

× Sunahara, Atsushi

WEKO 881446

Sunahara, Atsushi

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Nishikino, Masaharu

× Nishikino, Masaharu

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Nishikino, Masaharu

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Namba, Shinichi

× Namba, Shinichi

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Namba, Shinichi

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Gerry, O’Sullivan

× Gerry, O’Sullivan

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Gerry, O’Sullivan

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Higashiguchi, Takeshi

× Higashiguchi, Takeshi

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Higashiguchi, Takeshi

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Nishikino, Masaharu

× Nishikino, Masaharu

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en Nishikino, Masaharu

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 We evaluated the charge-separated spectra of highly charged suprathermal bismuth (Bi) ions from a dual laser-produced plasma soft x-ray source developed for soft x-ray microscopy. The charge distribution of these suprathermal ions emitted from a solid planar Bi target was measured by an electrostatic energy analyzer (ESA). The maximum ionic charge state was observed to be Z = 17 and to possess a maximum energy of about 200 keV. This evaluation provides important information essential for debris mitigation in a soft x-ray microscope.
書誌情報 Review of Scientific Instruments

巻 91, 号 8, 発行日 2020-08
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0034-6748
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1063/5.0012225
関連サイト
識別子タイプ URI
関連識別子 https://aip.scitation.org/doi/10.1063/5.0012225
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Ver.1 2023-05-15 18:03:34.203436
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