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0.12–0.54 MeV C60 ion impacts on a poly(methyl methacrylate) target: Characterization through emission properties of negative secondary ions
https://repo.qst.go.jp/records/79149
https://repo.qst.go.jp/records/791496b06a06b-cdf2-4d97-ae70-b14f94d52883
Item type | 学術雑誌論文 / Journal Article(1) | |||||
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公開日 | 2020-03-03 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 0.12–0.54 MeV C60 ion impacts on a poly(methyl methacrylate) target: Characterization through emission properties of negative secondary ions | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
資源タイプ | journal article | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
著者 |
平田, 浩一(産総研)
× 平田, 浩一(産総研)× Yamada, Keisuke× Chiba, Atsuya× Hirano, Yoshimi× Narumi, Kazumasa× Saitoh, Yuichi× Keisuke, Yamada× Atsuya, Chiba× Yoshimi, Hirano× Kazumasa, Narumi× Yuuichi, Saito |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | ポリメチルメタクリレート(PMMA)標的に0.12-0.54MeVのC60イオンを照射した際の二次負イオン放出特性を分析した結果を報告する。C60イオンパルスビームと飛行時間測定二次イオン質量分析法にイベント毎の測定モードを組み合わせることにより、C60イオン1個によって放出される二次負イオン数の確率分布及び特定の二次負イオン種について相対収量のエネルギー依存性を測定した。これらの分析により明らかになった二次負イオンの放出特性は、サブMeV級C60イオンによって標的中に形成されるイオントラックの構造(直径、長さ)によって説明できることがわかった。 | |||||
書誌情報 |
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B 巻 460, p. 161-164, 発行日 2019-04 |
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出版者 | ||||||
出版者 | Elsevier B.V. | |||||
ISSN | ||||||
収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
収録物識別子 | 0168-583X | |||||
DOI | ||||||
識別子タイプ | DOI | |||||
関連識別子 | 10.1016/j.nimb.2019.02.001 | |||||
関連サイト | ||||||
識別子タイプ | URI | |||||
関連識別子 | https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168583X19300722?via%3Dihub |
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Cite as
平田, 浩一(産総研), Yamada, Keisuke, Chiba, Atsuya, Hirano, Yoshimi, Narumi, Kazumasa, Saitoh, Yuichi, Keisuke, Yamada, Atsuya, Chiba, Yoshimi, Hirano, Kazumasa, Narumi, Yuuichi, Saito, n.d., 0.12–0.54 MeV C60 ion impacts on a poly(methyl methacrylate) target: Characterization through emission properties of negative secondary ions: Elsevier B.V., 161–164 p.