WEKO3
アイテム
Coherent Electrical Readout of Spin-Active Defects in 4H-SiC for Quantum Sensors using Photo-Ionization at Ambient Conditions
https://repo.qst.go.jp/records/78273
https://repo.qst.go.jp/records/78273aa4fe9e0-3f22-42a6-9240-db39daeec75e
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2019-12-28 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Coherent Electrical Readout of Spin-Active Defects in 4H-SiC for Quantum Sensors using Photo-Ionization at Ambient Conditions | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
Niethammer, Matthias
× Niethammer, Matthias× Widmann, Matthias× Rendler, Torsten× Morioka, Naoya× Chen Chen, Yu× Rainer, Stöhr× al Hassan, Jawad× Onoda, Shinobu× Ohshima, Takeshi× Sang-Yun, Lee× Mukherjee, Amlan× Isoya, Junichi× Tien Son, Nguyen× Jörg, Wrachtrup× Onoda, Shinobu× Ohshima, Takeshi |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | Coherent Electrical Readout of Spin-Active Defects in 4H-SiC for Quantum Sensors using Photo-Ionization at Ambient Conditions is presented. | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2019-10-01 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
