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アイテム
放射線によって生じるクラスターダメージの原子間力顕微鏡による解析
https://repo.qst.go.jp/records/73027
https://repo.qst.go.jp/records/730275c7a306f-e2ca-4a9f-8acf-81fabc4b6dde
Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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公開日 | 2018-11-19 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 放射線によって生じるクラスターダメージの原子間力顕微鏡による解析 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
資源タイプ | conference object | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
著者 |
中野, 敏彰
× 中野, 敏彰× Xu, Xu× 金本, 僚太× 平山, 亮一× 鵜澤, 玲子× 井出, 博× Nakano, Toshiaki× Hirayama, Ryoichi× Uzawa, Akiko |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 放射線照射した細胞では、放射線の飛跡に沿ってDNA損傷が生じる。飛跡に近い部位には損傷密度の高いクラスター損傷、離れた部位には孤立損傷が生じると考えられている。クラスター損傷は、細胞死や突然変異に深く関わっていると予想されているが、その実態はよく分かっていない。本研究では、DNAに生じたクラスター損傷を原子間力顕微鏡 (AFM)で直接観察することにより、その性状を解析することを目的とした。まず、3塩基および8塩基離れた2つの損傷を含むモデルDNAを構築した。損傷部位をビオチンを含むアルデヒド反応性プローブ (ARP)、次いでアビジンで標識しAFMで観察した。2つのアビジンが分離して観察されたことから、AFMがクラスター損傷観察に十分な分解能をもつことが確認された。次に、プラスミドDNAを放射線照射し、同様な方法で解析した結果,高LET放射線(Feイオン線)が低LET放射線(X線)に比べ,損傷多重度の高い複雑なクラスター損傷を誘発することを初めて実験的に示した。重粒子線の生物影響解明に重要な糸口となると考えられる。 | |||||
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 日本放射線影響学会第61回大会 | |||||
発表年月日 | ||||||
日付 | 2018-11-08 | |||||
日付タイプ | Issued |