@misc{oai:repo.qst.go.jp:00073027,
 author = {中野, 敏彰 and Xu, Xu and 金本, 僚太 and 平山, 亮一 and 鵜澤, 玲子 and 井出, 博 and Nakano, Toshiaki and Hirayama, Ryoichi and Uzawa, Akiko},
 month = {Nov},
 note = {放射線照射した細胞では、放射線の飛跡に沿ってDNA損傷が生じる。飛跡に近い部位には損傷密度の高いクラスター損傷、離れた部位には孤立損傷が生じると考えられている。クラスター損傷は、細胞死や突然変異に深く関わっていると予想されているが、その実態はよく分かっていない。本研究では、DNAに生じたクラスター損傷を原子間力顕微鏡 (AFM)で直接観察することにより、その性状を解析することを目的とした。まず、3塩基および8塩基離れた2つの損傷を含むモデルDNAを構築した。損傷部位をビオチンを含むアルデヒド反応性プローブ (ARP)、次いでアビジンで標識しAFMで観察した。2つのアビジンが分離して観察されたことから、AFMがクラスター損傷観察に十分な分解能をもつことが確認された。次に、プラスミドDNAを放射線照射し、同様な方法で解析した結果，高LET放射線（Feイオン線）が低LET放射線（X線）に比べ，損傷多重度の高い複雑なクラスター損傷を誘発することを初めて実験的に示した。重粒子線の生物影響解明に重要な糸口となると考えられる。, 日本放射線影響学会第61回大会},
 title = {放射線によって生じるクラスターダメージの原子間力顕微鏡による解析},
 year = {2018}
}