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アイテム
Development and Application of an Elemental Mapping System using an Ion MicrobeamDevelopment and Application of an Elemental Mapping System using an Ion Microbeam
https://repo.qst.go.jp/records/66406
https://repo.qst.go.jp/records/6640601ff4de3-c2a2-4c7c-98b0-fa0e6e6060f5
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2017-09-08 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Development and Application of an Elemental Mapping System using an Ion MicrobeamDevelopment and Application of an Elemental Mapping System using an Ion Microbeam | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
Satoh, Takahiro
× Satoh, Takahiro× Kada, Wataru× Ohkubo, Takeru× Yamada, Naoto× Yokoyama, Akihito× Kamiya, Tomihiro× Ishii, Yasuyuki× 佐藤 隆博× 大久保 猛× 山田 尚人× 横山 彰人× 石井 保行 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 直径1～数μmの3MeVのH+マイクロビームを試料に照射することで励起するX線を測定する微量元素マッピングシステム（マイクロPIXE分析システム) の利用を推進している。高崎量子応用研究所で開発したこのシステムでは、マイクロビームを、有機膜を通して大気中に取り出すことで、生体試料等の含水試料への照射を可能とした。さらに、真空中の照射では、トモグラフィ技術を取り入れることで、非破壊で三次元マッピングができる技術を開発し、直径数10μmの吸着材の中に残存する金属元素の分布から溶離率の改善につながる知見を得た。加えて、本システムと併用できるイオンビーム誘起発光分析システムの開発を行い、前者のみでは困難であった化合物の推定も可能になりつつある。これらの技術により、マイクロPIXE分析システムのさらなる応用の拡大が期待できる。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | IUMRS-ICAM 2017 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2017-08-30 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
