WEKO3
アイテム
顕微マッピング測定を用いた損傷構造の分析
https://repo.qst.go.jp/records/65869
https://repo.qst.go.jp/records/65869b0a860cd-4d75-4fec-88d4-9924174d7e6d
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2016-03-23 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 顕微マッピング測定を用いた損傷構造の分析 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
上田, 隆裕
× 上田, 隆裕× 楠本, 多聞× 小田, 啓二× 金崎, 真聡× 北村, 尚× 小平, 聡× 山内, 知也× 上田 隆裕× 楠本 多聞× 小田 啓二× 金崎 真聡× 北村 尚× 小平 聡× 山内 知也 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 現在高分子トラック損傷構造について赤外顕微鏡を用いた分析が行われている。従来用いてきた赤外分光器と比べると測定域が小さく顕微鏡下で任意に測定点を決めることが出来るため、高フルエンスを実現するためにビームを細くするような小さな範囲を測定するために利用されている。しかし、ビーム照射域を絞ると強度にばらつきが生じることが知られており、そのため正確な定量分析が阻まれる。そこで、赤外顕微鏡のマッピング測定機能を用いることによりビーム強度の分布を明らかにすると共に、照射前後の吸光度比より化学的損傷パラメータの算出を試みた。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 第30回固体飛跡検出器研究会 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2016-03-14 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
