@misc{oai:repo.qst.go.jp:00065869,
 author = {上田, 隆裕 and 楠本, 多聞 and 小田, 啓二 and 金崎, 真聡 and 北村, 尚 and 小平, 聡 and 山内, 知也 and 上田 隆裕 and 楠本 多聞 and 小田 啓二 and 金崎 真聡 and 北村 尚 and 小平 聡 and 山内 知也},
 month = {Mar},
 note = {現在高分子トラック損傷構造について赤外顕微鏡を用いた分析が行われている。従来用いてきた赤外分光器と比べると測定域が小さく顕微鏡下で任意に測定点を決めることが出来るため、高フルエンスを実現するためにビームを細くするような小さな範囲を測定するために利用されている。しかし、ビーム照射域を絞ると強度にばらつきが生じることが知られており、そのため正確な定量分析が阻まれる。そこで、赤外顕微鏡のマッピング測定機能を用いることによりビーム強度の分布を明らかにすると共に、照射前後の吸光度比より化学的損傷パラメータの算出を試みた。, 第30回固体飛跡検出器研究会},
 title = {顕微マッピング測定を用いた損傷構造の分析},
 year = {2016}
}