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アイテム
フラーレン負イオン源の開発
https://repo.qst.go.jp/records/54745
https://repo.qst.go.jp/records/547459b502ec8-2e95-4bfc-ba4a-17b3946d4f52
| Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2017-03-29 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | フラーレン負イオン源の開発 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
山田, 圭介
× 山田, 圭介× 千葉, 敦也× 横山, 彰人× 鳴海, 一雅× 齋藤, 勇一× 山田 圭介× 千葉 敦也× 横山 彰人× 鳴海 一雅× 齋藤 勇一 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | TIARAではフラーレン(C60)負イオンビーム強度の増大を目的として、電子付着方式の専用イオン源の開発を進めている。電子付着に適した電子エネルギーを探索するため、イオン生成チェンバー外部に取り付けた電子銃で電子供給するイオン源を設計・製作し、電子エネルギーを1～300eVの範囲で変えてC60負イオンビームの生成試験を行った。その結果、電子付着断面積が最大となる5eV付近でビーム強度が極大の100pAとなった。一方、20eV以上で再び増加し、300eVにおいて最大の300pAとなった。これは、チェンバー内壁から放出される数eV程度の二次電子の量がエネルギーとともに増加してC60に付着したことによると考えられる。更に、チェンバーを加熱してその内壁に付着したC60を再昇華させることで、300eVにおけるビーム強度を約30倍にできることを見出した。 | |||||
| 書誌情報 |
Proceedings of the 13th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan p. 981-982, 発行日 2016-11 |
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| 関連サイト | ||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||
| 関連識別子 | http://www.pasj.jp/web_publish/pasj2016/proceedings/PDF/TUP0/TUP050.pdf | |||||
| 関連名称 | http://www.pasj.jp/web_publish/pasj2016/proceedings/PDF/TUP0/TUP050.pdf | |||||
