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アイテム
イオンビーム，中性子線，X線を用いた材料中水素の高度解析
https://repo.qst.go.jp/records/82434
https://repo.qst.go.jp/records/824346628e688-9678-46f7-b91c-e21ccadd9f69
| Item type | 一般雑誌記事 / Article(1) | |||||
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| 公開日 | 2021-03-02 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | イオンビーム，中性子線，X線を用いた材料中水素の高度解析 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | article | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
福谷, 克之
× 福谷, 克之× 小澤, 孝拓× 大友, 季哉× 町田, 晃彦× Akihiko, Machida |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 原子番号1番の水素は多くの実験プローブに感度がなく，水素を観測するためには水素の原子核であるプロトンを直接観測する必要がある．イオンと中性子はプロトンを直接検出できるため、水素関係材料の研究に用いられている．本稿では，イオンビームによる核反応法と中性子およびX線回折を利用した水素関係先端材料研究について解説し，最近の成果を紹介する． | |||||
| 書誌情報 |
水素エネルギーシステム 巻 46, 号 1, p. 28-34, 発行日 2021-03 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 一般社団法人水素エネルギー協会 | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 1341-6995 | |||||
