WEKO3
アイテム
VUV waveform characterization by reflectivity depletion in laser ablation of Si
https://repo.qst.go.jp/records/76005
https://repo.qst.go.jp/records/7600526d01b58-4046-4b7e-bf89-2e587ee6a777
| アイテムタイプ | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2019-06-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | VUV waveform characterization by reflectivity depletion in laser ablation of Si | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference output | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
Itakura, Ryuji
× Itakura, Ryuji× Akagi, Hiroshi× Otobe, Tomohito× Itakura, Ryuji× Akagi, Hiroshi× Otobe, Tomohito |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 極短パルスレーザーをシリコンに集光することによってレーザーアブレーションを起こし、波長132 nm の真空紫外プローブパルスの時間分解反射スペクトルを測定した。アブレーションによる反射スペクトルの減衰に対してFROG解析行い、真空紫外パルスのパルス幅を 16 fs と決定し、スペクトル位相も決定した。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 35th Symposium on Chemical Kinetics and Dynamics | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2019-06-05 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
