WEKO3
アイテム
アブレーションによる反射率変化を用いた真空紫外パルス波形計測
https://repo.qst.go.jp/records/74740
https://repo.qst.go.jp/records/7474021339fb2-49a7-4a84-a8f7-7698f1a18c82
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2019-03-14 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | アブレーションによる反射率変化を用いた真空紫外パルス波形計測 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
板倉, 隆二
× 板倉, 隆二× 赤木, 浩× 乙部, 智仁× Itakura, Ryuuji× Akagi, Hiroshi× Otobe, Tomohito |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 極短パルスレーザーをシリコンに集光することによってレーザープラズマを生成し、波長132 nm の真空紫外プローブパルスの時間分解反射スペクトルを測定した。FROG解析により真空紫外パルスのパルス幅を 16 fs と決定することができた。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 第66回応用物理学会春季学術講演会への参加 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2019-03-10 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
