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  1. 特許
  2. 先端材料/機能性材料

CHARGED PARTICLE RADIATION MEASURING METHOD AND CHARGED PARTICLE RADIATION MEASURING DEVICE

https://repo.qst.go.jp/records/74414
https://repo.qst.go.jp/records/74414
dc683c7e-c847-4744-85c9-1059d7aa9b78
名前 / ファイル ライセンス アクション
Q14034US_all_b.pdf 公開公報 (639.2 kB)
Q14034US_all_c.pdf 特許公報 (608.1 kB)
Item type 特許 / Patent(1)
公開日 2019-11-29
タイトル
タイトル CHARGED PARTICLE RADIATION MEASURING METHOD AND CHARGED PARTICLE RADIATION MEASURING DEVICE
タイトル
タイトル CHARGED PARTICLE RADIATION MEASURING METHOD AND CHARGED PARTICLE RADIATION MEASURING DEVICE
言語 en
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_1843
資源タイプ other
職務発明者
識別子Scheme WEKO
識別子 807484
姓名 佐藤隆博
共願
値 あり
公開番号
値 US2018-0244990
公開日
日付 2018-08-30
特許番号
値 10294419
登録日
日付 2019-05-21
分類
値 その他
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Ver.1 2023-05-15 18:35:35.415590
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