WEKO3
アイテム
System and method for inspection of pictures of a sample
https://repo.qst.go.jp/records/74285
https://repo.qst.go.jp/records/74285e5f2bbdf-6a10-4c01-8d5f-f1d64e0b2bf1
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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公開広報 (228.7 kB)
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特許公報 (288.2 kB)
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| Item type | 特許 / Patent(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2019-02-28 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | System and method for inspection of pictures of a sample | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_1843 | |||||
| 資源タイプ | other | |||||
| 職務発明者 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 726376 | |||||
| 姓名 | 安田仲宏 | |||||
| 職務発明者 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 726377 | |||||
| 姓名 | エリックベントン | |||||
| 共願 | ||||||
| 値 | あり | |||||
| 公開番号 | ||||||
| 値 | EP1422648 | |||||
| 公開日 | ||||||
| 日付 | 2004-05-26 | |||||
| 特許番号 | ||||||
| 値 | EP1422648 | |||||
| 登録日 | ||||||
| 日付 | 2007-07-04 | |||||
| 分類 | ||||||
| 値 | 環境計測・環境・防護 | |||||
