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  1. 特許
  2. 遺伝子・生物

荷電粒子ビーム分布測定システムおよび荷電粒子ビーム分布測定方法

https://repo.qst.go.jp/records/74263
https://repo.qst.go.jp/records/74263
d34411b3-beed-4c32-9278-f9ed393fa6db
名前 / ファイル ライセンス アクション
Q00466JP_all_b.pdf 公開広報 (214.3 kB)
Q00466JP_all_c.pdf 特許公報 (1.1 MB)
Item type 特許 / Patent(1)
公開日 2019-02-28
タイトル
タイトル 荷電粒子ビーム分布測定システムおよび荷電粒子ビーム分布測定方法
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_1843
資源タイプ other
職務発明者
識別子Scheme WEKO
識別子 726333
姓名 片桐健
職務発明者
識別子Scheme WEKO
識別子 726334
姓名 北條悟
職務発明者
識別子Scheme WEKO
識別子 726335
姓名 野田章
職務発明者
識別子Scheme WEKO
識別子 726336
姓名 野田耕司
共願
値 -
公開番号
値 JP2015-075410
公開日
日付 2015-04-20
特許番号
値 6438646
登録日
日付 2018-11-22
分類
値 遺伝子・生物
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Ver.1 2023-05-15 19:15:46.653850
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