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アイテム
高LET重粒子線照射におけるDNA double strand bleak (DSB)の修復
https://repo.qst.go.jp/records/68672
https://repo.qst.go.jp/records/68672ccd869f0-3af2-4ebd-8302-5992a064e390
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2006-09-13 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 高LET重粒子線照射におけるDNA double strand bleak (DSB)の修復 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
関根, 絵美子
× 関根, 絵美子× 岡田, 真希× 于, 冬× 野口, 実穂× 藤井, 義大× 藤森, 亮× 岡安, 隆一× 関根 絵美子× 岡田 真希× 于 冬× 野口 実穂× 藤井 義大× 藤森 亮× 岡安 隆一 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 【目的】重粒子線は宇宙放射線の重要なコンポーネントとして存在し、またブラッグピークを利用して癌の放射線治療においても大きな貢献を果たしている。しかし、低LET放射線であるX線、γ線に比べ高LET放射線である重粒子線による影響はまだ不明な点が多い。そこで本研究ではX線、炭素線、炭素線と同じLET（約70kev/μm）で違う核種（ネオン線、シリコン線）、またネオン線、シリコン線において違うLET（約200kev/μm）を照射した場合に生じるDNA DSBの修復の様子を量的に比較検討した。この実験には、正常ヒト線維芽細胞（HFL?）とDSB修復欠損（Ligase?欠損）細胞（180BR）を用いた。 【方法】正常ヒト線維芽細胞（HFL?）、DSB修復欠損細胞（180BR）に、X線（200kV,20mA）、炭素線（290MeV/u、LET：約70keV/μm）、ネオン線（400MeV/u、LET：約70keV/μmと約200keV/μm）、シリコン線（490MeV/u、LET：約70keV/μmと約200keV/μm）をそれぞれ2Gy照射し、0、2、6、24時間後のDSBの修復の様子G1-type PCC法にて経時的に観察した。また、X線、炭素線、ネオン線、シリコン線をそれぞれ0.5Gy〜4Gy照射し生存曲線を求めた。また誤修復はPCC−FISH法によって観測した。 【結果・考察】ネオン線（400MeV/u、LET：約70keV/μm）、シリコン線（490MeV/u、LET：約70keV/μm）の2Gy照射時におけるDSB修復の速度はX線、炭素線（290MeV/u、LET：約70keV/μm）照射時の修復に比べると遅かった。今回、同じLETにおいて、違う核種間のDSBの修復過程に有意な違いが見られたが、これはビームのエネルギーの違いや構成核種とその分布の違いによるものと思われる。180BR（修復欠損（Ligase?欠損））は、全ての条件においてHFL?に比べて修復の速度は遅かった。一部のPCC-FISH法による誤修復のデータも紹介される。 |
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| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 日本放射線影響学会第４９回大会 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2006-09-08 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
