WEKO3
アイテム
蛍光 X 線分析法（XRF）によるアクチノイド汚染迅速評価法の開発
https://repo.qst.go.jp/records/65528
https://repo.qst.go.jp/records/6552876c269f6-0806-408b-838f-74c98d9b17f3
| アイテムタイプ | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2014-10-31 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 蛍光 X 線分析法（XRF）によるアクチノイド汚染迅速評価法の開発 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference output | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
今関, 等
× 今関, 等× 伊豆本, 幸恵× 柳原, 孝太× 松山, 嗣史× 濱野, 毅× 吉井, 裕× 今関 等× 伊豆本 幸恵× 柳原 孝太× 松山 嗣史× 濱野 毅× 吉井 裕 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 第30回PIXEシンポジウムで「蛍光 X 線分析法（XRF）によるアクチノイド汚染迅速評価法の開発」というタイトルで研究内容を発表した。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 第30回PIXEシンポジウム | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2014-10-22 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
