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アイテム
Braggピーク近傍の重粒子イオンを用いたイオン特異的な細胞致死効果の測定
https://repo.qst.go.jp/records/61753
https://repo.qst.go.jp/records/61753b8abb17b-177a-4c05-8e13-c7b4c5eaec19
Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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公開日 | 2006-09-11 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Braggピーク近傍の重粒子イオンを用いたイオン特異的な細胞致死効果の測定 | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
資源タイプ | conference object | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | metadata only access | |||||
アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
著者 |
小西, 輝昭
× 小西, 輝昭× 夏目, 敏之× 安田, 仲宏× 今関, 等× 古澤, 佳也× 佐藤, 幸夫× 檜枝, 光太郎× 小西 輝昭× 安田 仲宏× 今関 等× 古澤 佳也× 佐藤 幸夫× 檜枝 光太郎 |
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抄録 | ||||||
内容記述タイプ | Abstract | |||||
内容記述 | 重粒子線の生物効果はイオン固有効果と二次電子効果に分けることができる。2次電子効果は通常の低LET放射線と本質的に同じ効果を示すはずである。そのため、イオン固有効果を見るためには、2次電子の寄与を極力少なくする特別な配慮が必要となる。重粒子イオンの飛跡末端部にLETが最大となるピーク(Braggピーク)があり、ここにおいて、2次電子のエネルギーはきわめて低くなっている。従って、ブラッグピーク近傍において最もイオン特異的な損傷が誘発されると期待される。放医研HIMAC内の中エネルギービーム(MEXP)コースに導入されるフラグメンテーションによる軽二次粒子を含まない6MeV/nの低エネルギーイオンを空気中に引き出して照射に用いた。CHO-K1、HeLa細胞に照射し、コロニー形成法を用いて生存率曲線を取得し、致死の作用断面積を求め、さらにGoodheadら(1980)の式を用いて1イオン飛跡あたりの平均の致死的な損傷数(l1)を算出した。次にγ-H2AXを免疫蛍光染色し、共焦点レーザー顕微鏡で細胞核画像を取得して、細胞核をヒットするイオンが必ずDSBを誘発することを確認した。さらにパルスフィールドゲル電気泳動法を用いてイオンヒットによって誘発されるDSB数も算出した。LETが4760keV/umのFeイオンにおいても、1飛跡あたり数十ものDSBを誘発するが、l1は1.0未満であり、致死には最低でも2個以上のイオンが細胞核を通過する必要があった。 | |||||
会議概要(会議名, 開催地, 会期, 主催者等) | ||||||
内容記述タイプ | Other | |||||
内容記述 | 日本放射線影響学会第49回大会 | |||||
発表年月日 | ||||||
日付 | 2006-09-08 | |||||
日付タイプ | Issued |
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Cite as
小西, 輝昭, 夏目, 敏之, 安田, 仲宏, 今関, 等, 古澤, 佳也, 佐藤, 幸夫, 檜枝, 光太郎, 小西 輝昭, 安田 仲宏, 今関 等, 古澤 佳也, 佐藤 幸夫, 檜枝 光太郎, 2006, Braggピーク近傍の重粒子イオンを用いたイオン特異的な細胞致死効果の測定.
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