WEKO3
アイテム
Si イオン粒子線照射されたヒト正常繊維芽細胞の染色体異常と生存率
https://repo.qst.go.jp/records/59352
https://repo.qst.go.jp/records/593522a6cbbbe-a650-491e-88db-c789a2919224
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2002-07-18 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Si イオン粒子線照射されたヒト正常繊維芽細胞の染色体異常と生存率 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
船田, 文
× 船田, 文× 加藤, 宝光× 青木, 瑞穂× 古澤, 佳也× 高倉, かほる× 加藤 宝光× 青木 瑞穂× 古澤 佳也× 高倉 かほる |
|||||
| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 我々はこの数年の研究で、重粒子線によって培養細胞に誘発される細胞死と染色体異常の関係を調べてきた。その結果、重粒子線照射された細胞の生存率がLET値に依存すること、及び、染色体損傷が細胞の増殖死と密接な関係にあることが示されてきた。本研究では、ヒト正常繊維芽細胞にSiイオン粒子線を照射し、これによる生存率の変化と染色体損傷の関係を調べた。 20%のFBSを含むMEM Eagle培地で培養した、増殖期のGM05389細胞を照射サンプルとし、放医研の重粒子線がん治療装置（HIMAC）で490 MeV Siイオン粒子線を用いて136 keV/μm、370 keV/μmの照射を行った。生存率は、照射直後と照射後10時間（37℃, 5% CO2下で）培養した後の細胞でコロニーアッセイ法により求めた。染色体損傷は、2 Gy照射した細胞を、照射直後、及び0.5 1.0 2.0 4.0 10.0時間培養した後、calyculin Aを用いたPCC法によって分析した。 生存率はX線、370 keV/μm Si 粒子線、136 keV/μm Si 粒子粒子線の順で次第に低くなり、（10時間培養後の）生存率の上昇はX線と370 keV/μm Si 粒子線で見られたが、136 keV/μm Si 粒子線ではほとんど見られなかった。染色体損傷については、染色体切断、同位染色体切断、交換型染色体異常について分析した。2 Gy 照射後10時間培養して得られる生存率を、X線照射の場合を基準に、Si 粒子線の136 keV/μm、370 keV/μmの場合の比として求め、これを交換型染色体異常における同様の比と較べてみたところ、相関があることがわかった。このことは、重粒子線による細胞死において交換型染色体異常が重要であることを示唆している。 |
|||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 日本放射線影響学会第４５回大会 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2002-09-20 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
