ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. プロシーディングス

スポットスキャン照射における取出しヒビーム強度変調システムの開発

https://repo.qst.go.jp/records/53540
https://repo.qst.go.jp/records/53540
980edf1a-6937-4e33-959d-048c7ccd9ba3
Item type 会議発表論文 / Conference Paper(1)
公開日 2005-06-30
タイトル
タイトル スポットスキャン照射における取出しヒビーム強度変調システムの開発
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_5794
資源タイプ conference paper
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
著者 佐藤, 眞二

× 佐藤, 眞二

WEKO 546511

佐藤, 眞二

Search repository
古川, 卓司

× 古川, 卓司

WEKO 546512

古川, 卓司

Search repository
野田, 耕司

× 野田, 耕司

WEKO 546513

野田, 耕司

Search repository
佐藤 眞二

× 佐藤 眞二

WEKO 546514

en 佐藤 眞二

Search repository
古川 卓司

× 古川 卓司

WEKO 546515

en 古川 卓司

Search repository
野田 耕司

× 野田 耕司

WEKO 546516

en 野田 耕司

Search repository
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 At HIMAC synchrotron, we have developed dynamic intensity control system toward spot scanning irradiation. ain this system, the spill structure is controlled dynamically by controlling the amplitude modulation of the RF-knock out.in this paper,the system for controlling amplitude modulation and experimental result are described.
書誌情報 Proceedings of the Symposium on Accelerator and Related Technology for Application

巻 7, p. 35-36, 発行日 2005-06
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1344-4514
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-05-15 23:11:28.643703
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3