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  1. 原著論文

Total-reflection high-energy positron diffraction (TRHEPD) for structure determination of the topmost and immediate sub-surface atomic layers

https://repo.qst.go.jp/records/49230
https://repo.qst.go.jp/records/49230
31aa01c1-10c2-4124-94fc-b7bc753f0054
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2018-11-01
タイトル
タイトル Total-reflection high-energy positron diffraction (TRHEPD) for structure determination of the topmost and immediate sub-surface atomic layers
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
アクセス権
アクセス権 metadata only access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_14cb
著者 深谷, 有喜

× 深谷, 有喜

WEKO 496708

深谷, 有喜

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河裾, 厚男

× 河裾, 厚男

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河裾, 厚男

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× 一宮, 彪彦

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一宮, 彪彦

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兵頭, 俊夫

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河裾 厚男

× 河裾 厚男

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en 河裾 厚男

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Total-reflection high-energy positron diffraction (TRHEPD) has recently been developed to investigate the surface structure (atomic geometry) and surface properties of materials. It is the positron (the antiparticle of the electron) counterpart of reflection high-energy electron diffraction (RHEED). Depending on the glancing angle of incidence, positrons are totally reflected from the surface or shallowly penetrate into the bulk of the sample solid. Thus, it is possible to obtain information about the topmost and immediate sub-surface layers without the background effect of the bulk. In this review, this distinctive feature of the TRHEPD process and some of the results on surface structures and characteristics are described.
書誌情報 Journal of Physics D: Applied Physics

巻 52, p. 013002-19, 発行日 2018-10
出版者
出版者 IOP Publishing
DOI
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1088/1361-6463/aadf14
関連サイト
識別子タイプ URI
関連識別子 http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6463/aadf14/meta
関連名称 http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6463/aadf14/meta
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Ver.1 2023-05-15 23:20:33.109045
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