| アイテムタイプ |
会議発表用資料 / Presentation(1) |
| 公開日 |
2026-06-18 |
| タイトル |
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タイトル |
Current status and future prospects of the micro ARPES system at NanoTerasu BL06U |
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言語 |
en |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6670 |
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資源タイプ |
conference poster |
| 著者 |
Nishino Fumi
Iwasawa Hideaki
Kitamura Miho
Inami Nobuhito
Taichi Okuda
神田 龍彦
JASRI
保井 晃
JASRI
Horiba Koji
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| 抄録 |
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内容記述 |
角度分解光電子分光(ARPES)は、物質の電子構造を直接観察可能な手法である。トポロジカル絶縁体や低次元材料における新奇物性の探索から、エレクトロニクス材料における動作原理解明や高効率化に至るまで幅広く応用される強力な研究手法として重要視されている。 我々は最近、3 GeV高輝度放射光施設NanoTerasuにおいてARPES専用ビームライン06Uを開発した。06Uは全長4 mのAPPLE-II型アンジュレーターを備え、50~1000 eVの範囲で、水平・垂直直線偏光および左右円偏光に切り替え可能な高輝度軟X線を提供する。ビームラインは最下流にて二つに分岐され、そのうちの一つであるAブランチにおいては100 nm以下に集光されるビームを用いたナノARPES装置が建設中である。今年度9月にSPECS社製アナライザASTRAIOSが導入され、装置整備を進めている。Bブランチには1 μm以下に集光されたビームを用いたマイクロARPESが整備され、2025年3月よりユーザー利用が開始された。 本発表では主に、既に利用が開始されたマイクロARPESの仕様とその将来的な整備計画について報告する。12月にはアナライザスリット方向に対し垂直な光電子放出角度を分解検出可能なディフレクターモードを備えたDA30アナライザへの更新を予定しており、来年度A期に向けた整備を進めている。さらに、従来のモット型に比して約100倍の検出効率を有する超低エネルギー電子回折型スピン検出器および、in-situで薄膜試料の清浄化・作製が可能な準備層も今年度末に導入される予定である。 |
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） |
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内容記述 |
42nd International Conference on Vacuum Ultraviolet and X-ray Physics (VUVX 2026) |
| 発表年月日 |
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日付 |
2026-06-23 |
