| アイテムタイプ |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2024-05-23 |
| タイトル |
|
|
タイトル |
高エネルギー放射光単色X線による二重露光応力測定 |
|
言語 |
ja |
| 言語 |
|
|
言語 |
jpn |
| 資源タイプ |
|
|
資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
|
資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
鈴木 賢治
山田 みなみ
城 鮎美
菖蒲 敬久
豊川 秀訓
佐治 超爾
|
| 抄録 |
|
|
内容記述タイプ |
Abstract |
|
内容記述 |
これまでの研究において、より簡便な粗大粒のひずみ評価方法として二重露光法（DEM）を提案し、その有効性を実証してきた。しかし、この方法で使用した2次元検出器Pilatusは、Siが検出媒体であることから、30 keVを超えると計数効率が著しく低下するため、30 keVで測定できるアルミニウム合金の残留応力測定にとどまっていた。産業利用に活用するためにも鉄鋼材料の応力評価が重要であるが、高エネルギー放射光の範囲ではDEMの実証的研究は未着手であった。
本研究では、高エネルギー放射光単色Ⅹ線を用いて、CdTeピクセル検出器とCCDカメラの2つの検出器利用し、DEMによる焼きばめ応力測定を行った。SUS304の焼きばめ試験片は粒径が43μmの準粗大粒で、回折リングは連続環ではなく、スポッティであった。しかし、準粗大粒にもかかわらず、DEMを用いて焼きばめ試験片の応力を測定することができた。このことから、DEMは粗大粒材の応力測定に有効であると言える。また、DEMは、検出位置を増やして回折角度の精度を改善するよりも、検出間距離Lを大きくして角度分解能を改善する方が有効であった。 |
| 書誌情報 |
材料
巻 71,
号 4,
p. 347-353,
発行日 2022-04
|
| 出版者 |
|
|
出版者 |
公益社団法人日本材料学会 |
| ISSN |
|
|
収録物識別子タイプ |
ISSN |
|
収録物識別子 |
054-5163 |
| DOI |
|
|
|
識別子タイプ |
DOI |
|
|
関連識別子 |
10.2472/jsms.71.347 |
