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アイテム
Micro scanning PIXEにおける照射量測定システムの開発 その1
https://repo.qst.go.jp/records/63006
https://repo.qst.go.jp/records/63006fa80a23f-9274-444e-b488-b5b0d613df10
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2009-03-25 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Micro scanning PIXEにおける照射量測定システムの開発 その1 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
石川, 剛弘
× 石川, 剛弘× 磯, 浩之× 及川, 将一× 小西, 輝昭× 北村, 尚× 樋口, 有一× 酢屋, 徳啓× 濱野, 毅× 今関, 等× 石川 剛弘× 及川 将一× 小西 輝昭× 北村 尚× 酢屋 徳啓× 濱野 毅× 今関 等 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | イオンビームを用いた元素分析法の一つであるPIXE分析法は、多元素を同時に分析することができることから、定性面の分析において数多く研究に用いられているが、近年では検出感度の向上と定量化が強く望まれるようになった。そのため我々は、二次元元素マップの取得が可能なマイクロビームスキャニングPIXE分析ラインにおいても定量化のための技術開発を進めることにした。定量化において、試料に対するイオンビーム照射量の正確な測定が必須であることから、ビームをスキャンした状態でも測定可能な、二次電子を利用した電流モニタの開発に着手した。現在、予備実験中であるが、その途中経過を報告する。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 第４回技術と安全の報告会 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2009-03-17 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
