@misc{oai:repo.qst.go.jp:00086194,
 author = {松本, 謙一郎 and 上野, 恵美 and 荘司, 好美 and 中西, 郁夫 and Kenichiro, Matsumoto and Megumi, Ueno and Yoshimi, Shoji and Ikuo, Nakanishi},
 month = {May},
 note = {放射線は水中に局所濃度で数Mレベルの極めて密なヒドロキシルラジカル（･OH）を生成し、そこでは･OH同士の反応で比較的高濃度の過酸化水素（H2O2）クラスターが生成する。X線ではH2O2クラスタ間距離は40~50 nmと報告されており、本研究では、炭素線が生じるH2O2クラスタ間距離の評価を行った。 濃度の異なる (0.76~1661 μM)TEMPOLの水溶液を調製し、炭素線 (290 MeV/nucleon) を照射した時のTEMPOLの還元量を試料溶液中のTEMPOL一次元密度（分子間距離の逆数）に対してプロットし、プロットの変曲点から高濃度H2O2クラスタ間距離を予測した。大気下と低酸素条件下で実験し、結果を比較した。炭素線では、線量当たりのTEMPOL還元量がX線に比べて少なく、更にLETが大きくなるほどTEMPOL還元量が減った。しかし酸素非依存的なH2O2生成量はLETが大きくなると増加するため、炭素線のLETが大きくなるに伴ってクラスタの数が減ると予想した。炭素線では、大気下と低酸素条件下で変曲点の位置が大きく異なり、大気下ではクラスタ間距離が狭く評価された。酸素によってコア領域のクラスタがぶつ切りになった可能性がある。低酸素条件下ではX線と同等か若干広いクラスタ間距離が得られ、コア領域とペナンブラ領域のクラスタとの距離を反映していると考えられる。, 第75回日本酸化ストレス学会学術集会},
 title = {重粒子（炭素）線が水中に生じる過酸化水素クラスタ間距離の解析},
 year = {2022}
}