@inproceedings{oai:repo.qst.go.jp:00085327,
 author = {Terauchi, Masami and Ebisu, Ryogo and Sato, Yohei and Masato, Koike and Masato, Koike},
 book = {Microscopy & Microanalysis},
 issue = {S1},
 month = {Aug},
 note = {400～1000 eV の範囲の 3d 遷移⾦属元素の L 発光は、化合物中のそれらの元素の化学状態だけでなく荷電状態に関する有益な情報を含んでいる。 Lα,β 発光プロファイルとその強度は、それぞれエネルギー分布と 3d 電⼦の量を反映している。また、そのエネルギー位置は、充電状態 (化学シフト) によって影響を受ける。 Ll,ηの放出エネルギーは、3s 準位に空孔がある最終状態の緩和エネルギーを反映している。 さらに、Ll, ηプロファイルは、価数 3d 電⼦の磁気モーメントと、関連する 3d 遷移⾦属元素の 3s との間の相互作⽤を介した磁気モーメントの情報を含んでいる。 しかしながら、従来の電子顕微鏡搭載型の軟X線発光分光器は、Ll,η 線の磁気情報を分析するのに⼗分なエネルギー分解能を持っていなかった。そのため、本研究ではTEM ⽤に設計された⼤きなエネルギー分散を持つ分光器を、EPMA ⽤の分光器に改修を行った。この分光器では試料から回折格子までの距離は従来から市販されている分光器と同じであるが、回折格子から検出器までの距離は約 2 倍であり、このことは、従来比で約 2 倍のエネ ルギー分散が得られることを意味している。検出器は、CMOS カメラ（3.45μm ピッチ） と光学的に結合された MCP（7.5μm ピッチ）で構成されている。この装置を用いてFeのL-発光スペクトルを測定した結果、金属FeとFe2O3のエネルギープロファイルの違いが明確に観測された他、3s3d交換相互作用に起因すると推定されるLl線の内部構造の存在も明らかになった。},
 pages = {1370--1371},
 publisher = {Microscopy Society of America},
 title = {Fine structures of Fe L-emission examined by a new HR-SXES instrument},
 volume = {27},
 year = {2021}
}