@misc{oai:repo.qst.go.jp:00084630,
 author = {中山, 耕輔 and 徳山, 敦也 and 守谷, 歩美 and 本間, 飛鳥 and 川上, 竜平 and 菅原, 克明 and 相馬, 清吾 and 北村, 未歩 and 堀場, 弘司 and 組頭, 広志 and 山内, 邦彦 and 小口, 多美夫 and 高橋, 隆 and 瀬川, 耕司 and 佐藤, 宇史 and Koji, Horiba},
 month = {Jan},
 note = {今回我々は、Photon Factory BL-28A のマイクロ集光ARPES システムを用いて、高次トポロジカル絶縁体候補物質Bi、及びカイラル対称性に保護されたワイル粒子を内包するTe における電子状態の実空間イメージングを行い、微小空間に現れる特異な電子状態を探索した。その結果、試料形状に応じた電子状態が空間変化を観測した。, 第35回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム},
 title = {マイクロARPESによるBi及びTeの電子状態イメージング},
 year = {2022}
}