@misc{oai:repo.qst.go.jp:00084456,
 author = {木名瀨, 暁理 and 小畑, 結衣 and 横谷, 明徳 and Akari, Kinase and Yui, Obata and Akinari, Yokoya},
 month = {Dec},
 note = {放射線がDNAなどの生体分子と衝突すると、エネルギーの低い二次電子が生じる場合があり、一時的に分子がアニオンになった後に解離することがある。これを解離性電子付着という。未だに解離性電子付着によるDNA損傷やその修復メカニズムについて明らかになっていないことが多く、早急な解明が求められている。本研究では、低エネルギーX線照射によって生成されたDNA損傷の収率と、非照射細胞内における修復難易度を調べることを目的とした。これを、アガロースゲル電気泳動と生細胞タイムラプス撮影の二点で検討を行った。プラスミドDNAは損傷によって、コンフォメーションが変化する。そのDNAの立体構造の変化を、アガロースゲル電気泳動により分析し、1/e線量を算出した。そして、1/e線量を照射したDNAプラスミドDNAサンプルを、トランスフェクションによって非照射細胞に導入し、EGFP発現をライブセルにてタイムラプス撮影し、経時的に観察を行った。今回は、これらの実験結果について発表する。, 量子生命科学先端フォーラム2021冬の研究会},
 title = {低エネルギーX線照射によるDNA損傷誘発と非照射細胞内における修復難易度の研究},
 year = {2021}
}