@misc{oai:repo.qst.go.jp:00083564,
 author = {堀場, 弘司 and 徳山, 敦也 and 中山, 耕輔 and 守谷, 歩美 and 山内, 邦彦 and 菅原, 克明 and 北村, 未歩 and 組頭, 広志 and 高橋, 隆 and 小口, 多美夫 and 瀬川, 耕司 and 佐藤, 宇史 and Koji, Horiba},
 month = {Sep},
 note = {本研究では、表面平坦化効果を持つガスクラスターイオンビーム(GCIB)という新たなイオンビーム技術と、微小集光した光源を用いたマイクロARPESを融合することで、劈開困難なTe(0001)表面の電子状態観測を行った。実験には東北大学及びPhoton Factory BL-28Aの高分解能ARPES装置を用いた。ブリルアンゾーンの中心付近で測定した結果から、フェルミ準位近傍で頂点を持つホール的なバンドの存在を見出した。このバンドはバルクバンド計算では説明できず、Te(0001)面に特有の電子状態であると考えられる。, 日本物理学会　2021年秋季大会},
 title = {Te(0001)のマイクロARPES},
 year = {2021}
}