@misc{oai:repo.qst.go.jp:00081563,
 author = {園田, 翔梧 and 廣瀬, 雄太 and 中村, 一也 and 村上, 陽之 and 濱田, 一弥 and Murakami, Haruyuki and Hamada, Kazuya},
 month = {Sep},
 note = {日本と欧州が共同で建設している核融合超伝導トカマク型実験装置「JT-60SA」の超伝導マグネットは中心ソレノイド(CS)，6個の平衡磁場コイル(EF)，18個のトロイダル磁場コイル(TF)から構成されている。CSは4つの電気的に独立したモジュールから構成され，1モジュールは8層のパンケーキコイル6個と4層のパンケーキコイル1個から成る。電流は常伝導ブスバーと超伝導フィーダを通して電源から供給される。CSモジュールの絶縁材端子間の電圧設計値は10 kVであり，理想的に分圧した場合，それぞれの層間に約0.38 kVの電圧が印加される。しかし，電源電圧には数kHzの周波数成分が含まれているため，共振現象によりモジュール内に不均一な分布が発生する。その結果，導体間の絶縁が損傷してしまう可能性がある。本研究では，構造物による導体間電圧の影響を評価するため，先行研究で作成した解析モデルにおいて，構造部とモジュール間のキャパシタンスの値を変化させた場合に共振周波数及び層間の最大電圧がどのように変化するか，また，CSを模擬するため，CSモジュールを複数個積み重ねた場合の導体間電圧分布について評価を行った。その結果，構造物キャパシタンスの増加により，共振周波数の減少及び導体間最大電圧の増加が確認した。CS4モジュール解析において層間の最大電圧は絶縁材端子間の電圧設計値(0.38 kV)を超えないことが示された。ゆえに共振現象により絶縁破壊が起こらないことを明らかにした。, 令和２年 電気学会 電力・エネルギー部門大会},
 title = {JT-60SA CS における構造物の影響による導体間電圧の評価},
 year = {2020}
}