@misc{oai:repo.qst.go.jp:00081366,
 author = {中野, 敏彰 and 赤松, 憲 and 鹿園直哉 and 平山, 亮一 and 玉田, 太郎 and 廣本, 武史 and Toshiaki, Nakano and Ken, Akamatsu and Naoya, Shikazono and Ryoichi, Hirayama and Taro, Tamada and Takeshi, Hiromoto},
 month = {Dec},
 note = {放射線は飛跡に沿って分子を電離することから，照射された細胞では，飛跡と重なるDNA部位に高密度な損傷（クラスターダメージ）が生じると考えられている。しかし，実験的に高密度損傷の存在を実証した研究はなかった。そこで申請者はこれまでに、原子間力顕微鏡（AFM）を用いクラスター損傷を個別に可視化・検出方法を確立し、放射線を照射したプラスミドに生じた損傷の解析を行い、LETの増加によりクラスターダメージを伴う損傷が増加している事を明らかにし、これについて前年度の学会で報告した。その後さらに系を発展させ、AFMによるDNA損傷の可視化分析技術を発展的に展開し、放射線を照射した細胞や腫瘍中のDNAでも検討する方法を確立し、細胞や腫瘍中に生じた塩基損傷、クラスターダメージ、DSB末端に塩基損傷を含む新たなDNA損傷の観察を可能にした。さらに、本発表では、この系を軸に損傷毎の修復速度を解析した。, 量子生命科学会第二回大会},
 title = {細胞への放射線照射によってDNA中に生じた損傷の可視化},
 year = {2020}
}