@inproceedings{oai:repo.qst.go.jp:00080801,
 author = {柏木, 啓次 and 宮脇, 信正 and 倉島, 俊 and Kashiwagi, Hirotsugu and Miyawaki, Nobumasa and Kurashima, Satoshi},
 book = {Proceedings of the 17th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan},
 month = {Oct},
 note = {TIARA AVFサイクロトロンでは効率的な入射調整のため、サイクロトロンのアクセプタンス測定技術の開発を行っている。この測定では、サイクロトロン内部で数十ピコアンペアから数ナノアンペアのビーム強度の測定が必要であるが、現在使用しているサイクロトロン内部の電流測定プローブではS/N比が低く、ナノアンペア以下の測定が困難であった。そこで、サイクロトロン内部のビーム位相測定に用いる平行平板型位相プローブ（電極間にビームが通過した際の静電誘導信号の位相からビーム位相を測定する装置）の電圧信号強度から上述の範囲のビーム強度測定が可能かを検証した。実験では、ビーム電流を入射ビームの時間幅制御により変え、位相プローブ出力電圧信号から高S/Nの周波数成分（加速RF周波数の6倍）を抽出してその強度を測定した。ビーム時間幅に対応するビーム電流値は電流測定プローブにより測定し、ナノアンペア以下のビーム電流は時間幅から算出した。その結果、4.8µAから70pA（ビーム時間幅制御の下限）まで、ビーム電流に比例した出力電圧信号が検出された。これにより、位相プローブを用いて、ナノアンペア以下のビームの強度が測定できることを確認した},
 pages = {707--709},
 title = {Measurement of beam intensity using a phase probe in a cyclotron},
 year = {2020}
}