@article{oai:repo.qst.go.jp:00080115,
 author = {高田, 由美 and 伊豆本, 幸恵 and 高村, 晃大 and 松山, 嗣史 and 酒井, 康弘 and 吉井, 裕 and Takata, Yumi and Izumoto, Yukie and Takamura, Kodai and Matsuyama, Tsugufumi and Yoshii, Hiroshi},
 journal = {X線分析の進歩},
 month = {Mar},
 note = {東京電力福島第一原子力発電所の廃炉過程において，ウランに汚染された可能性のある瓦礫等が発生し，その迅速な分析が求められることが予想される．ウランは半減期が長いために放射線計測で定量することが困難であり，誘導結合プラズマ質量分析計（ICP-MS）により質量分析を行う手法が一般的である．しかし，この方法では有機物除去のために灰化処理を施す必要があり，迅速な分析には不適である．本研究では，ウランに汚染された瓦礫の表面を削り取ったものを模擬した試料を作製し，成分を酸溶出して，固相抽出法によりウランを抽出してから全反射蛍光X 線（TXRF）分析法によりウランを定量する方法を開発した．さらに，ウラン抽出液を物理的に濃縮することによる検出下限の改善についても検討した．},
 pages = {169--177},
 title = {全反射蛍光X 線分析法による模擬ウラン汚染瓦礫表面のウラン汚染評価法},
 volume = {51},
 year = {2020}
}