@article{oai:repo.qst.go.jp:00079556,
 author = {鈴木, 賢治 and 菖蒲, 敬久 and 城, 鮎美 and Takahisa, Shobu and Ayumi, Shiro},
 issue = {4},
 journal = {材料},
 month = {Apr},
 note = {粗大粒のための新しい応力測定法として、放射光単色X線を利用した二重露光法（DEM）を提案する。回折角は入射X線ビームと回折斑点のビームから得ることができ、各ビームは2θアームに搭載した直動ステージ上の2次元検出器によって測定される。DEMの有用性を実証するため、塑性曲げ試験片の残留応力および圧痕試験片の残留応力分布の評価を行った。DEMによって評価した残留応力は、有限要素解析のシミュレーション結果と良く対応しており、DEMは粗大粒のX線応力測定法として有効であった。},
 pages = {312--317},
 title = {二重露光法による粗大粒材の応力測定},
 volume = {68},
 year = {2020}
}