@misc{oai:repo.qst.go.jp:00078736,
 author = {前川, 雅樹 and 和田, 健 and 宮下, 敦巳 and 河裾, 厚男 and Maekawa, Masaki and Wada, Ken and Miyashita, Atsumi and Kawasuso, Atsuo},
 month = {Dec},
 note = {スピン偏極陽電子を用いると、オルソPsの消滅寿命の強度変化から物質最表面の電子スピン偏極状態が評価できる。放出Psの速度分布測定を行うことが出来れば、電子エネルギーの関数として表面電子偏極率が得られる。我々は、スピン偏極陽電子を用いたPs飛行時間測定装置(SP-PsTOF)の開発を進めている。
　440 MBqのNa-22線源を用いて発生させたスピン偏極陽電子ビームを、2keV程度に減速して試料に打ち込み、放出Psの飛行時間測定(TOF測定)を行った。試料は外部に置かれた0.05Tの電磁石により面内方向に磁化させることで、スピン偏極Ps-TOF測定を行う。
　ニッケル、コバルト、白金薄膜の測定を行ったところ、オルソPs由来と思われる時刻にピークが現れた。強磁性体薄膜(ニッケルおよびコバルト)では、正負磁場によりTOFスペクトル強度に違いが検出されたが、非磁性体である白金試料では磁化方向による違いは検出されなかった。現在、エネルギー分解能向上を目指した検証実験を行っている。, 京都大学複合原子力科学研究所専門研究会 「陽電子科学とその理工学への応用」},
 title = {スピン偏極ポジトロニウム飛行時間測定装置の開発},
 year = {2019}
}