@misc{oai:repo.qst.go.jp:00078426,
 author = {長谷川, 真保 and 西久保, 開 and 藤原, 悟 and 松尾, 龍人 and 松本, 義久 and 横谷, 明徳 and Hasegawa, Maho and Nishikubo, Kai and Fujiwara, Satoru and Matsuo, Tatsuhito and Yokoya, Akinari},
 month = {Jan},
 note = {放射線照射により誘発される二本鎖切断(DSB)は、非相同末端結合修復 (NHEJ) によって修復される。この経路に関与するXRCC4タンパク質は、 二量体で生体内に存在し、近年では、リン酸化を受けて活性化すると、 DSB末端の再結合反応の足場としてXRCC4-like factor(XLF)とフィラメン ト構造を形成し、不安定な末端をサポートするモデルが提唱されている [1]。この高次構造形成には、タンパク質のリン酸化による構造変化が重 要な役割を果たしていると推測される。私たちはこれまで、野生型及び特 定のアミノ酸残基をアスパラギン酸置換することで疑似リン酸化した XRCC4変異体に対して、真空紫外線領域の円二色性(CD)スペクトル測定 により二次構造解析を行うとともに[2]、動的光散乱（DLS）法とX線小角 散乱(SAXS)法による高次構造解析に取り組んできた。その結果、CD測定 およびDLS測定では、二量体に変化は見られなかったものの、試料精製時 に形成される会合体の二次構造・粒子径の変化が示唆された。一方で、 SAXS測定では、二量体の散乱曲線に違いが見られた。二量体試料は単分 散系ではなく会合体も含んでいる。疑似リン酸化によって会合体形成率 が変化する可能性が考えられることから、現在、試料における会合体分布 の影響を検討している。その現状を報告する。 [1] Williams, G.J. et al., DNA Repair 17, 110-120 (2014). [2] Nishikubo, K. et al., The 23rd Hiroshima International Symposium on Synchrotron Radiation, 2019., 第33回日本放射線射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム},
 title = {Ｘ線小角散乱法を用いたリン酸化XRCC4の活性化構造解析},
 year = {2020}
}