@misc{oai:repo.qst.go.jp:00078043,
 author = {北村, 智 and 佐藤, 勝也 and 長谷, 純宏 and 大野, 豊 and 鹿園, 直哉 and Kitamura, Satoshi and Sato, Katsuya and Hase, Yoshihiro and Ono, Yutaka and Shikazono, Naoya},
 month = {Dec},
 note = {突然変異は、細胞内に含まれる遺伝物質であるDNAに損傷が生じ、そのDNA損傷が修復される際に元通りのDNA配列にならずに変化した場合に発生する。イオンビームやガンマ線といった量子ビームは、DNAに種々の損傷を誘発し、結果として様々な突然変異を発生させる。このような突然変異は偶発的に生じるものと考えられてきたが、近年、その定説に疑問を呈する結果も得られている。そこで本研究では、この議論の検証に必要となる、量子ビーム照射当代植物の葉組織において複数遺伝子の突然変異を可視的に検出する系の構築を行った。, QST高崎サイエンスフェスタ2019},
 title = {フラボノイド色素をマーカーとした量子ビーム照射当代シロイヌナズナ葉における複数遺伝子の突然変異検出系の開発},
 year = {2019}
}